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X射线衍射仪

日期:2019-03-20


Bruker D8 Advance X射线衍射仪

能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、材料的线、面扫描定性分析、基本参数法线形分析、晶胞参数计算和固溶体分析。

主要参数:

1. 扫描方式:Theta / Theta测角仪,立式测角仪。

2. 2 q转动范围:-10°~168°

3. 最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001°

4. 能量分辨率:8.5% 完全能够分辨Ka, Kb射线,并去铜靶测试铁钴镍样品产生的荧光,而无需任何单色器。

提供高温高压腔体:控温精度:25900℃;通入气氛:可通还原,氧化,惰性,真空气氛;压力范围:1 mbar 100 bar